Méthode de Davanne et Martin
applicable aux systèmes épais
lorsque leurs éléments cardinaux sont extérieurs ( cas de l'objectif photographique)
![]() |
Le principe de la méthode est basé, comme dans la méthode de Silbermann, sur la recherche des plans antiprincipaux pour lesquels: |
On a alors:
soit:
(1)
On commence par
placer un objet
AB dans le plan focal objet d'une lentille auxiliaire L ( réglage par autocollimation)
puis on fait l'image
nette sur un écran de cet objet rejeté à l'infini; on repère ainsi la position
de F' par rapport à la face de sortie S2
du système épais soit:
On recommence
en retournant le système centré face pour face d'où la position de F par rapport
à la face S1
du système centré:
On enlève la lentille auxiliaire L et on déplace le système centré et l'écran jusqu'à ce que l'on obtienne une image égale à l'objet et renversée: image et objet sont donc dans les plans antiprincipaux: d'où la mesure de la distance d.
On peut alors déduire la valeur de f ' par la relation (1).